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在发展中求生存，不断完善，以良好信誉和科学的管理促进企业迅速发展产品优势：先进的测试原理：该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；产品优势：高灵敏度和信噪比：探测器采用HAMAMATSU高性能光电倍增管（PMT）,具有很高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；产品优势：高速数据采集：部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；产品优势：稳定的光路系统：采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；产品优势：高精度恒温控制系统：采用半导体温控技术，温控精度高达±0.1℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。技术参数：浓度范围：0.1mg/ml--100mg/ml(与样品有关)。广州质量纳米粒径分析仪改造
技术参数：重量：12Kg
技术参数：数字相关器主要参数：规格型号：CR256；自相关通道：256；基线通道：4；物理通道数：5000；醉小分辨时间：6ns；延迟时间：100ns-10ms（可调）；运算速度：162M/S；
技术参数：重量：12Kg
技术参数：数字相关器主要参数：规格型号：CR256；自相关通道：256；基线通道：4；物理通道数：5000；醉小分辨时间：6ns；延迟时间：100ns-10ms（可调）；运算速度：162M/S；
技术参数：重量：12Kg
技术参数：数字相关器主要参数：规格型号：CR256；自相关通道：256；基线通道：4；物理通道数：5000；醉小分辨时间：6ns；延迟时间：100ns-10ms（可调）；运算速度：162M/S； 纳米粒径分析仪温控精度高达±0.1℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态。
产品优势：
1.先进的测试原理：该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；
2.高灵敏度和信噪比：探测器采用HAMAMATSU高性能光电倍增管（PMT）,具有很高的灵敏度和信噪比，从而保证了测试结果的准确度；
3.高速数据采集：部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；
4.稳定的光路系统：采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；
5.高精度恒温控制系统：采用半导体温控技术，温控精度高达±0.1℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。
产品优势：高速数据采集：部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；
产品优势：稳定的光路系统：采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性；
产品优势：高速数据采集：部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；
产品优势：稳定的光路系统：采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗干扰能力，从而保证了测试的稳定性； Winner802光子相关纳米粒度仪是国家科技型中小企业技术创新基金项目成果。
纳米粒度仪具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的产品。
纳米粒度仪具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的产品。
纳米粒度仪具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的产品。
纳米粒度仪具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，同时还具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的优点，是纳米颗粒粒度测试的产品。
技术参数：体积：600mm*380mm*230mm。广州选择纳米粒径分析仪用处
技术参数：样品池体积：10mm*10mm*40mm 1～4mL。广州质量纳米粒径分析仪改造
技术参数：重复性误差：≤1%（国家标准样品平均粒径）
技术参数：激光光源：半导体激光器，λ=532nm，p=30mW
技术参数：重复性误差：≤1%（国家标准样品平均粒径）
技术参数：激光光源：半导体激光器，λ=532nm，p=30mW
技术参数：重复性误差：≤1%（国家标准样品平均粒径）
技术参数：激光光源：半导体激光器，λ=532nm，p=30mW
技术参数：重复性误差：≤1%（国家标准样品平均粒径）
技术参数：激光光源：半导体激光器，λ=532nm，p=30mW 广州质量纳米粒径分析仪改造
